Sobre mí

Especialista en Microscopía electrónica y Técnico responsable del servicio de Microscopía Electrónica de Transmisión del SCAI. Actualmente soy responsable de los microscopios electrónicos JEOL JEM-1400 y FEI Talos F200-X, con capacidad para realizar imágenes de alta resolución así como microanálisis (EDX – EELS), difracción de electrones (SAED), tomografía electrónica, etc.

Líneas de investigación

El microscopio electrónico utiliza un fino haz de electrones acelerados que, al impactar con la muestra, genera una serie de señales directamente relacionadas con la estructura atómica del objeto investigado. Estas señales se seleccionan por separado para generar distintos tipos de imágenes y obtener datos analíticos. En el MET los electrones transmitidos con y sin dispersión se utilizan para crear imágenes de transmisión convencionales, de campo oscuro y alta resolución, revelando la estructura interna de las muestras, tamaño y distribución de partículas, su red cristalina, interfases y defectos puntuales de la red atómica, etc. Los rayos X generados son utilizados para estudiar la composición química de la muestra, pudiendo analizar aisladamente zonas de muy pocas micras e incluso nanométricas. Finalmente, mediante la difracción de electrones (electrones dispersados elásticamente) puede hacerse un detallado estudio cristalográfico del material investigado.